試料スタブ & マウント

AGG301

SEM試料スタブ

価格：￥8,000/100個

 ・アルミニウム製

在庫数：３式

AGG301B

SEM試料スタブ

価格：￥3,200/10個

・真鍮製

在庫数：０

AGG301C

SEM試料スタブ

価格：￥26,000/10個

 ・銅製

在庫数：０

※12.5mmΦ, 3.2mm × 8mm

　FEI/PHILLIPS,ZEISS装置用

AGG301F

SEM試料スタブ

価格：￥8,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

在庫数：１０式

AGG301F-B

SEM試料スタブ

価格：￥25,000/100個

・LEO/ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 6mmピン

・真鍮製

在庫数：０

AGG301P

SEMピンスタブ

価格：￥20,000/100個

・高純度アルミニウム製

・12.5mmΦ

在庫数：５式

AGG399

SEM試料スタブ

価格：￥21,700/50個

・アルミニウム製

在庫数：５式

AGG399B

SEM試料スタブ

価格：￥8,500/10個

・真鍮製

在庫数：０

※LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN, ZEISS製装置用

25mmΦ, 3.2 × 8mm

AGG399F

SEM試料スタブ

価格：￥21,700/50個

・25mmΦ

・3.2 × 6mmピン

・アルミニウム製

・LEO/ZEISS装置用

在庫数：４式

AGG3026

フラットピンスタブ

価格：￥8,900/10個

・12.7mmΦ

・薄型

・アルミニウム製

・ピン高さ 7.92mm

・全長 8.92mm

在庫数：９

AGG319

ピンスタブ

価格：￥35,000/個

・100mmΦ×9.5mm(ピン高さ)

・アルミニウム製

・AMRAY, Cambridge, Leica, ZEISS/LEO,    　FEI/Phillips, Camscan & TESCAN用

在庫数：１

AG16187-12

PELCO Q SEMピンスタブ 12.7×12.7mm

価格：￥2,200/個

在庫数：０ 

AG16187-19

PELCO Q SEMピンスタブ 19×19mm

価格：￥3,400/個

在庫数：０

AG16187-25

PELCO Q SEMピンスタブ 25.4×25.4mm

価格：￥3,800/個

在庫数：０

※相関顕微鏡法用

AGG1092450-10

ミクロトームスタブ

価格：￥4,200/10個

在庫数：０

AGG1092450-20

ミクロトームスタブ

価格：￥7,700/20個

在庫数：０

AGG1092450-50

ミクロトームスタブ

価格：￥17,500/50個

FEI装置用(その他顕微鏡でも使用可能)

在庫数：０

AGG1092450

ミクロトームスタブ

価格：￥34,200/100個

在庫数：０

AG15318

ピンスタブ延長

価格：￥20,400/個

・12.5mm × 3.2mm(ピン高さ)

在庫数：５

AGG3657

分析スタブ用ピンタイプアダプター

価格：￥40,300/個

・32mmスタブ(リエントラントベース)を使用可能にするアダプター

・ZEISS用

在庫数：０

AGG350-10

サンプルピン(2mmΦ)

価格：￥5,700/10個

在庫数：０ 

AGG350-50

サンプルピン(2mmΦ)

価格：￥27,600/50個

在庫数：０

AGG350-100

サンプルピン(2mmΦ)

価格：￥52,700/100個

在庫数：０

・Leica＆RMCクライオウルトラミクロトーム用

AG16360

ピンマウント(3分割)

価格：￥2,600/個

・12.7mm

在庫数：０

AG16363

ピンマウント(3分割)

価格：￥3,000/個

・18mm

在庫数：０

AG16364

ピンマウント(9分割)

価格：￥3,100/個

・25mm

在庫数：０

AG16367

ピンマウント(12分割)

価格：￥4,300/個

・32mm

在庫数：０

※FEI/Phillips,ZEISS/LEO,Cambridge,Leica

Amray,Tescan,CamscanSEM用                                                                                    

AGY5596

SEMピンスタブ

価格：￥10,600/10個

・18mmΦ

・ピン高さ8mm

・ピンサイズ3.2mmΦ

在庫数：０

AG16144

SEMピンスタブ

価格：￥10,200/10個

・25.4mmΦ

・ピン高さ9.5mm

・ピンサイズ3.2mmΦ

在庫数：２

AGG301A

SEM試料スタブ

価格：￥9,000/100個

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・12.5mmΦ 3.2 × 8mm

・ピン長さ8mm

・溝無し

・アルミニウム製

在庫数：０

AGG3325

SEM試料スタブ

価格：￥19,700/50個

・アルミニウム製

・12.5mmΦ

・3.2 × 15mm

・AMRAY装置用

在庫数：０

AG16148

SEMピンスタブ

価格：￥11,500/個

・32mmΦ

・ピン高さ9.5mm

・ピンサイズ3.2mmΦ

在庫数：０

AGG3030

SEM試料スタブ

価格：￥7,100/10個

・12.7mmΦ

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

・ピンサイズ3.2mmΦ

・全長 7mm

在庫数：５

AGG321

SEM試料スタブ

価格：￥2,000/個

・12.5mmΦ

・カーボン製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCA, ZEISS装置用

在庫数：１０

AGG301D

スロット試料スタブ

価格：￥2,200/個

・ZEISS/FEI装置用

・12.5mmΦ

・アレンキー付

・アルミニウム製

・スロット4mm幅

・グラブねじ２本付

在庫数：８５

AGG3020A

SEM試料スタブ

価格：￥45,000/100個

・12.5mmΦ

・20°面取

・アルミニウム製

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用

在庫数：０

AGG3020

SEM試料スタブ

価格：￥7,200/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMCAN, TESCAN ZEISS装置用

・アルミニウム製

在庫数：１０式

AGG301E

SEM試料スタブ

価格：￥6,900/10個

・12.5mmΦ

・45°面取

・LEO/CAMBRIDGE, FEI/PHILLIPS, CAMSCAN, TESCAN, ZEISS装置用

・アルミニウム製

在庫数：８式

AGG3029

SEM試料スタブ

価格：￥11,700/10個

・12.7mmΦ

・36°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

在庫数：7

AGG3028

SEM試料スタブ

価格：￥13,100/10個

・12.7mmΦ

・38°面取

・薄型アルミニウム製

在庫数：４

AGG3027

SEM試料スタブ

価格：￥10,000/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・薄型アルミニウム製

在庫数：０

AGG3031

SEM試料スタブ

価格：￥9,000/10個

・12.7mmΦ

・90°面取

・ピン高さ6mm

・薄型アルミニウム製

在庫数：１

AGG3160

SEM試料スタブ

価格：￥1,500/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ7.8mm

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

在庫数：３２

AGG3162

SEM試料スタブ

価格：￥1,500/個

・12.7mmΦ

・45/90°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製

在庫数：２３

AGG3161

SEM試料スタブ

価格：￥2,000/個

・12.7mmΦ

・薄型45°面取

・ピン高さ9.5mm

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

・アルミニウム製

在庫数：５０

AGG3163

SEM試料スタブ

価格：￥2,300/個

・12.7mmΦ

・薄型70°面取

・ピン高さ9.5mm

・結晶解析(EBSD)用

・アルミニウム製

・FEI/PHILLIPS, ZEISS装置用

在庫数：５６

AG16101

45°SEMマウント12.7mm

価格：￥12,900/個

・アルミニウム

・エッジ溝付

在庫数：０