テストサンプル

AGS130-02

ポリスチレンラテックス球0.03㎛(10ml)

価格：￥7,500/個

在庫数：０

AGS130-04

ポリスチレンラテックス球0.08㎛(10ml)

価格：￥7,200/個

在庫数：０

AGS130-06

ポリスチレンラテックス球0.09㎛(10ml)

価格：￥7,200/個

在庫数：０

AGS171

Chessy サンプル

価格：￥380,000/個

・160万個のAu正方形配置/シリコン上

在庫数：０

AGS168

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格：￥23,600/個

・ピンスタブ上 12.5mmΦ3.2x8mmピン

在庫数：１

AGS168S

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格：￥23,600/個

・ピンスタブ上 12.5mmΦ3.2x6mmピン

在庫数：１

AGS168A

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格：￥23,600/個

・10mmJEOL製スタブ上

 在庫数：０

AGS168C

カーボン上金蒸着SEM分解能測定試料

価格：￥23,600/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズは およそ5～150nm です。

在庫数：０

AGS1969

カーボン上金蒸着 高分解能測定試料

価格：￥38,300/個

・12.5mmピンスタブ上

在庫数：０ 

AGS1969A

カーボン上金蒸着 高分解能測定試料

価格：￥38,300/個

・JEOL製スタブ上(Φ12.5mm 3.2×8mm(H))

在庫数：０

AGS1969C

カーボン上金蒸着 高分解能測定試料

価格：￥38,300/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズはおよそ3～50nmです。

在庫数：０

AGS1987

カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料

価格：￥62,000/個

・12.5mmピンスタブ上

在庫数：０

AGS1987A

カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料

価格：￥59,600/個

・10mmJEOL製スタブ上

在庫数：０

AGS1987C

カーボン上金蒸着 超高分解能測定用試料

価格：￥59,600/個

・15mmHitachi製スタブ上

※粒子サイズはおよそ2nm～30nmです。

在庫数：０

AGS168Z

カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料

価格：￥30,600/個

・12.5mmピンスタブ上

在庫数：０

AGS168AZ

カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料

価格：￥30,600/個

・10mmJEOL製スタブ上

在庫数：０

AGS168CZ

カーボン上金蒸着 低加速電圧観察用試料

価格：￥30,600/個

・Hitachi製スタブ上

※粒子サイズは30～300nmです。

在庫数：０

AGS1808

Pelco Nanogold分解能テストサンプル

価格：￥51,800/個

・12.5mmピンスタブ上

・38nm(±4nm)

在庫数：０

AGS1808A

Pelco Nanogold分解能テストサンプル

価格：￥59,800/個

・Φ10mm×5(H)JEOL製スタブ上

・38nm(±4nm)

在庫数：０

AGS1808C

Pelco Nanogold分解能テストサンプル

価格：￥51,800/個

・15mmΦHitachi製スタブ上

・38nm(±4nm)

・6mm(H)、M4ネジ穴(5mm)、シリンダータイプ

在庫数：０

※シリコン上金蒸着分解能観察用テストサンプルです。それぞれの粒子サイズは一定で既知のため、SEM、FIB/SEMにて高分解能テストに適しています。

AGS1937

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格：￥47,100/個

・ピンスタブ上

在庫数：０

AGS1937A

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格：￥45,200/個

・10mmJEOL製スタブ上

在庫数：０

AGS1937C

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格：￥47,100/個

・15mmHitachi製スタブ上

※粒子サイズはおよそ5nm～30㎛です。

在庫数：０

AGS1967

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格：￥34,200/個

・ピンスタブ上

在庫数：０

AGS1967A

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格：￥34,200/個

・JEOL製スタブ上

在庫数：０

AGS1967C

カーボン上Sn球 分解能測定用試料

価格：￥32,900/個

・Hitachi製スタブ上

在庫数：０

※粒子サイズは約10～100nmです。

AGS1988

カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料

価格：￥44,200/個

・12.5mmピンスタブ上

在庫数：０

AGS1988A

カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料

価格：￥44,200/個

・10mmJEOL製スタブ上

在庫数：０

AGS1988C

カーボン上Sn球 低加速電圧観察用試料

価格：￥44,200/個

・15mmHitachi製スタブ上

※粒子サイズは約20nm～400nmです。

在庫数：０

AGS145

中分解能 Al - W 樹脂状構造

価格：￥64,600/個

・マウント無し状態での提供

・グレーレベルテスト可能

在庫数：０

AGS1950

BSE標準試料 - Ni/Cu

価格：￥119,000/個

在庫数：０

AGS1951

BSE標準試料 - Pd/Au

価格：￥118,000/個

在庫数：０

AGS1952

BSE標準試料 - Pt/Au

価格：￥116,000/個

在庫数：０

AGS1954

BSE標準試料 - Al/Si

価格：￥123,000/個

在庫数：０

AGS1953

Duplex試料

価格：￥118,200/個

※平均原子番号の違いが僅か0.1である銅と亜鉛の合金試料です。

在庫数：０

AGS1990

Geller社  Reference Standard MRS3 -Non Traceable

価格：お問い合わせください

在庫数：０ 

AGS1991

Geller社  Reference Standard MRS3  -XY Traceable

価格：お問い合わせください

在庫数：０

AGS1992

Geller社  Reference Standard MRS3  -XYZ Traceable

価格：お問い合わせください

在庫数：０

X10~X50,000の校正サンプルとして使用可能

Pinスタブ用やHitachiスタブ用等のリテーナーが用意されています。

リテーナーも併せてお問い合わせください。

AGS1810

Geller社  Reference Standard MRS4 -Non Traceable

価格：お問い合わせください

在庫数：０ 

AGS1811

Geller社  Reference Standard MRS4  -XY Traceable

価格：お問い合わせください

在庫数：０

AGS1812

Geller社  Reference Standard MRS4  -XYZ Traceable

価格：お問い合わせください

在庫数：０

X10~X200,000の校正サンプルとして使用可能

Pinスタブ用やHitachiスタブ用等のリテーナーが用意されています。

リテーナーも併せてお問い合わせください。

AGS1862

144nm 認定較正用標準試料

価格：お問い合わせください

・12.5mmピンスタブ上

在庫数：０

AGS1862A

144nm 認定較正用標準試料

価格：お問い合わせください

・10mmJEOL製スタブ上

在庫数：０

AGS1862C

144nm 認定較正用標準試料

価格：お問い合わせください

・15mmHitachi製スタブ上

在庫数：０

※German PTB(Physikalisch-Technische Bundesanstalt)の認定試料です。AFM、STM、Auger、FIB、SEMに適しています。